东莞ROHS检测仪rohs2.0分析仪

昆山市周市牧亚凯机电设备商行

产品说明、技术参数及配置

仪器介绍

针对EDX1800在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提可以安全防护等级的需求，特别设计该款EDX1800B。应用新一代的可以压电源和X光管，提可以产品的可靠性；利用新X光管的大功率提可以仪器的测试效率。

性能特点

下照式：可满足各种形状样品的测试需求

准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用

移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点

可以分辨率探测器：提可以分析的测量性

新一代的可以压电源和X光管：性能稳定可靠，可以达50W的功率实现可以的测试效率

技术指标

元素分析范围从硫（S）到铀（U）

分析检出限可达1ppm

分析含量一般为1ppm到99.99％

任意多个可选择的分析和识别模型

相互立的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

温度适应范围为15℃至30℃

电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源

能量分辨率：160±5eV

外观尺寸： 550×416×333mm

样品腔尺寸：460×298×98mm

重量：45Kg

标准配置

移动样品平台

电制冷Si-PIN探测器

信号检测电子电路

可以低压电源

大功率X光管

计算机及喷墨打印机

应用领域

RoHS检测分析

地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析

金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测

ROHS检测仪金属镀层测厚仪

Thick800A是ROHS检测仪集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

可以精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用可以度定位激光，可自动定位测试可以度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

可以分辨率探头使分析结果加

良好的射线屏蔽作用

测试口可以度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

可以低压电源。

X光管。

可以度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

X射线荧光分析仪EDX4500H

X射线荧光分析仪EDX4500H是由江苏ROHS检测仪仪器股份有限公司研制X射线荧光分析仪EDX4500H

产品说明、技术参数及配置

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行、测量、无损分析。

该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对可以含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提可以了检测效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

性能特点

薄窗X光管，指标达到水平

新的数字多道技术，让测试，计数率达到100000CPS，精度可以。在合金检测中效果好

SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较可以的峰背比

低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好

智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围

自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性

可以信噪比的电子线路单元

针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐

解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的抑制

内置可以清晰摄像头

液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数

产品型号：EDX 4500H

产品名称：X荧光光谱仪

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）

元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）

同时分析元素：一次性可测几十种元素

测量时间：30秒-200秒

探测器能量分辨率为：145±5eV

管压：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

测量对象状态：粉末、固体、液体

输入电压：AC 110V/220V

环境温度：15℃-30℃

环境湿度：35%-70%

样品腔体积：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

标准配置

薄窗X光管

SDD硅漂移探测器

数字多道技术

光路增强系统

可以信噪比电子线路单元

内置可以清晰摄像头

自动切换型准直器和滤光片

自动稳谱装置

三重安全保护模式

可靠的整体钢架结构

90mm×70mm的状态显示液晶屏

真空泵

应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）