荧光光谱仪和国产ICP-MS 国内ICPMS

钢研纳克检测技术股份有限公司

PlasmaMS 300的各项参数都需要进行优化，以便获得稳定的数据分析结果，这些参数包括：
• 样品引入
• ICP炬管
• 接口
• 透镜
• 四级杆
• 器
一般来说，参数优化的目的都是为了获得目标同位素的灵敏度。在下面的章节中我们 会详细介绍，灵敏度在整个优化过程中扮演了主要的角色，但是除了灵敏度以外，其他 因子也需要引起您的注意，必须综合考虑，后才能得到恒定又可靠的**SMAMS 300结果数据。

质谱干扰主要分为以下两类：
1.多原子干扰(Polyatomic) – 与目标同位素原子质量重合的多原子离子，所带来的干扰
解决办法：1、参数调谐：载气、采样深度等
2、使用碰撞反应池技术
2. 同量异位素干扰(Isobaric) –与目标同位素原子具有相同质量数的原子带来的干扰(目标 原子与干扰原子的质子数和中子数都不同，但(质子数+中子数)相同)；也包括质荷比相等 的不同元素离子形成的干扰。
解决办法：选择合适的同位素

**SMAMS 300 测量的是等离子体中带一价正电荷的离子的数目。ICP 的条件需要优化，以
程度地形成一价正离子，同时尽可能减少多电荷离子的形成和多原子分子的形成。这些一 价离子在等离子体处产生，然后通过采样锥进入透镜系统，之后质谱仪中根据离子的质量
数将其分离(严格意义上说是根据质荷比)，分离完成以后离子才到达器。
**SMAMS 300系统分为4个功能单位。为了使仪器的性能达到，建议操作者必须对这四个 部分进行分别优化。
1. 进样系统Sample Introduction –包括等离子体源，大气压条件下在ICP处产生各种元素 的离子。
2.接口系统和离子透镜系统 –接口系统对离子源进行采样，将其引入真空环境，并通过一 系列的电子透镜对离子进行聚焦。
3.四级杆 –质量筛选是通过四级杆进行的，按照质荷比筛选。从大气压到这个真空度的抽真空时间大约是~15min(在未拆开箱盖的情况下)。
4.器 –离子被四级杆分离以后，达到器时进行计数。 如果用户更换器，需要 过夜抽真空进行器脱气。 离子束在每个功能模块中的运动我们在后续章节中都会介绍，接下的个章节就会介绍 进样系统。

ICP-MS的前处理方法包括：
1、稀释和溶解：适合直接溶解的液体或固体样品
2、普通酸溶消溶：可以溶解于无机酸获**酸的固体样品，部分金属和非金属固体样品
3、微波消解：难溶的土壤、合金、矿石等样品
4、密闭闷罐消解：密闭环境，高压消解，普通酸溶无法完全消解样品可以尝试该方法
5、熔融：采用熔剂高温状态下熔融，一般地质矿样使用该方法居多
6、基体分离：色谱、离心、电热蒸发等